zhou yang和Claude Opus 5
ceadf08345
地址表按设计文档 §8.2 钉死（0x40/41/44/45/42 + 输入侧 0x43），只走 ina226_rail_addr()，并有一条测试专门拦「ina_addr = 0x40 + ch」这一手 （CH3/CH4/CH5 三路全错，需求 §10.4）。 驱动只经 hal_i2c_*：认件（MFG/DIE ID）、写 Config 0x4327 + CAL 2048 并 回读校验、读 V/I/分流/功率。电流有符号，反灌为负（SW-8 判据）。 巡检走 read_vi()，每片两次事务，对应 §10.3 的 8% I²C 占用。 两条留给下次的坑：寄存器指针不依赖自增（sim 会自增、真件不会，靠自增 在宿主机上测不出来）；CAL 丢了不报错只让 Current/Power 恒读 0，所以 有 ina226_check()。 Co-Authored-By: Claude Opus 5 <[email protected]> Claude-Session: https://claude.ai/code/session_01QYuExfgyYa6DzRRcUso8M8
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# 交接
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更新：2026-09-06 完成任务包 **A3**（INA226 驱动 + 六片地址表）
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## 一句话现状
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六片 INA226 的地址表钉死在代码里（`0x40/41/44/45/42` + 输入侧 `0x43`），
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驱动能认件（MFG/DIE ID）、写 Config+CAL 并回读校验、读出 V / I / 分流 / 功率，
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电流**有符号**（反灌为负）。4 条 ctest（34 个用例）全绿，`idf.py build` 通过。
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## 下一步
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**A4**：DAC63204 驱动 + `rail_set_mv()`（需求 §10.5 全节）。
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三条断言：①4020 mV 被拒（SR-13）②**写更大的码值输出更低**（反向关系）③3900 mV ↔ Vd 0.548 V。
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地址 `0x4A`（U6：CH1~3）/ `0x4B`（U7：CH4~5），同样查表不要算。
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## 本次新增/修改的文件
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- `components/drv/include/ina226.h` — 寄存器、量程常量、地址表、采样结构（唯一对外契约）
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- `components/drv/ina226.c` — 驱动本体（≈170 行，只经 `hal_i2c_*`）
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- `components/drv/CMakeLists.txt` — 新 IDF 组件 `drv`，`REQUIRES phonerail_hal`
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- `test/test_ina226.c` — 17 个用例
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- `host/CMakeLists.txt` — 加 `PHONERAIL_DRV_SRCS` 与 `drv/include`
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- `main/CMakeLists.txt` — `REQUIRES phonerail_hal drv`
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## 验收命令与结果
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$ bash host/test.sh
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100% tests passed, 0 tests failed out of 4 # +test_ina226（17 个用例）
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$ .\build_idf.ps1 # PowerShell
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phonerail.bin binary size 0x32550 bytes. ... 0xcdab0 bytes (80%) free.
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Project build complete. # build/esp-idf/drv/.../ina226.c.obj 确认编到了
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## 踩到的坑（只写会再犯的）
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- **别依赖 I²C 寄存器指针自增**：sim 的假器件**会**自增，INA226 按 datasheet **不会**。
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「一次 write_read 连读 0x01~0x04」在宿主机上全绿，到板上四个量会读成同一个。
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驱动每次读之前重写指针，`test_pointer_is_rewritten_before_every_read` 盯着这条。
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（指针不自增这条**未在实物上验过**，B1 上板时确认。）
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- **`write_verify()` 之后 `last_write` 是那次回读的指针字节（len 1），不是刚写的三字节。**
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按「最后一次写就是我写的数据」写断言会红一次 —— 改看 `n_write`/`n_read` 计数。
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- cygwin 并行链接偶发 `Error running link command: Subprocess aborted`（这次是 test_version）。
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**重跑一次就好**，不是代码问题，别去查。
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## 这个驱动的几条约定（写 A7 / A10 之前看一眼）
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- **地址查表**：`ina226_rail_addr(rail)`，rail 是 **1~5**（不是 0~4），越界 abort。
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`ina226_all_addr[6]` 供扫描用；`ina226_addr_table_ok()` 做启动自检（含与
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DAC 0x4A/0x4B、PCA9555 0x20、LM75 0x48 的撞车检查）。
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- **单位**：`bus_mv` / `shunt_uv` / `current_ua` / `power_mw`，全是 `int32_t`。
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电流 LSB 0.5 mA ⇒ `current_ua` 一定是 500 的整数倍；−60 mA（SW-8 判据）= `-60000`。
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- **巡检走 `ina226_read_vi()`**（只读母线电压 + 电流，两次事务）——
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§10.3 那 8 % 的 I²C 占用是按「每片每 20 ms 两次事务」算的，读四个量会翻倍。
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- **`HAL_ERR_BUS` 在这个驱动里有特定含义**：器件应答了但内容不对
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（probe 的 ID 不匹配 = 贴错件/地址跳线焊错；init 的回读不一致；check 的 CAL 丢了）。
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和「没这个器件」的 `HAL_ERR_NAK` 是两回事，降级矩阵（A15）要分开处理。
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- **CAL 丢了不会报错，只会让 Current/Power 恒读 0**，看上去像「这台手机不耗电」。
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所以有 `ina226_check()`，巡检里定期查一次、不一致就 `ina226_init()` 重来并记事件。
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- Config 定为 **0x4327**（AVG=4、VBUSCT=VSHCT=1.1 ms、连续测量分流与母线），
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转换周期 8.8 ms < t_safety 的 20 ms。改这个值前先算一遍这个不等式。
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