A3：INA226 驱动 + 六片地址表
地址表按设计文档 §8.2 钉死（0x40/41/44/45/42 + 输入侧 0x43），只走 ina226_rail_addr()，并有一条测试专门拦「ina_addr = 0x40 + ch」这一手 （CH3/CH4/CH5 三路全错，需求 §10.4）。 驱动只经 hal_i2c_*：认件（MFG/DIE ID）、写 Config 0x4327 + CAL 2048 并 回读校验、读 V/I/分流/功率。电流有符号，反灌为负（SW-8 判据）。 巡检走 read_vi()，每片两次事务，对应 §10.3 的 8% I²C 占用。 两条留给下次的坑：寄存器指针不依赖自增（sim 会自增、真件不会，靠自增 在宿主机上测不出来）；CAL 丢了不报错只让 Current/Power 恒读 0，所以 有 ina226_check()。 Co-Authored-By: Claude Opus 5 <[email protected]> Claude-Session: https://claude.ai/code/session_01QYuExfgyYa6DzRRcUso8M8
这个提交包含在：
zhou yang
+38
-35
@@ -1,53 +1,56 @@
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# 交接
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更新：2026-09-06 完成任务包 **A2**（HAL 接口 + sim 实现）
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更新：2026-09-06 完成任务包 **A3**（INA226 驱动 + 六片地址表）
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## 一句话现状
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四路 HAL（i2c / gpio / pwm / time）的接口定死了，两套实现都在：
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宿主机链 `sim/`（假 I²C 器件 + 虚拟时钟 + 故障注入），ESP32-S3 链 `esp/`（IDF v5.4 新版
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`i2c_master` / gpio / LEDC / esp_timer）。3 条 ctest（16 个用例）全绿，`idf.py build` 零警告。
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六片 INA226 的地址表钉死在代码里（`0x40/41/44/45/42` + 输入侧 `0x43`），
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驱动能认件（MFG/DIE ID）、写 Config+CAL 并回读校验、读出 V / I / 分流 / 功率，
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电流**有符号**（反灌为负）。4 条 ctest（34 个用例）全绿，`idf.py build` 通过。
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## 下一步
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**A3**：INA226 驱动 + 六片地址表（`0x40/41/44/45/42/43`，设计文档 §8.2）。
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驱动只准通过 `hal_i2c_*` 访问总线；测试用 `sim_i2c_add(addr, 2)` 挂假器件、
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`sim_i2c_set_reg()` 预置值。**16 位寄存器是大端**，sim 已按大端实现。
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**A4**：DAC63204 驱动 + `rail_set_mv()`（需求 §10.5 全节）。
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三条断言：①4020 mV 被拒（SR-13）②**写更大的码值输出更低**（反向关系）③3900 mV ↔ Vd 0.548 V。
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地址 `0x4A`（U6：CH1~3）/ `0x4B`（U7：CH4~5），同样查表不要算。
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## 本次新增/修改的文件
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- `components/phonerail_hal/include/hal_{err,i2c,gpio,pwm,time}.h` — 接口（唯一的对外契约）
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- `components/phonerail_hal/hal_err.c` — 两个目标共用的错误码字符串
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- `components/phonerail_hal/esp/hal_{i2c,gpio,pwm,time}_esp.c` — ESP-IDF 实现
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- `components/phonerail_hal/sim/sim_hal.h` — **假板子的控制面**（应用代码不许包含）
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- `components/phonerail_hal/sim/{sim_hal,hal_i2c_sim,hal_gpio_sim,hal_pwm_sim,hal_time_sim}.c`
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- `components/phonerail_hal/CMakeLists.txt` — IDF 组件（只收 `esp/`，不收 `sim/`）
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- `test/test_hal_i2c_sim.c`、`test/test_hal_sim.c` — 本包的测试
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- `host/CMakeLists.txt` — 加 `PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS` 与两个 include 目录
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- `main/CMakeLists.txt` — `REQUIRES phonerail_hal`；`main/app_main.c` 调一次 HAL 保证链接
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- `../固件开发计划.md` §4.1 — 记下组件重名那个坑
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- `components/drv/include/ina226.h` — 寄存器、量程常量、地址表、采样结构（唯一对外契约）
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- `components/drv/ina226.c` — 驱动本体（≈170 行，只经 `hal_i2c_*`）
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- `components/drv/CMakeLists.txt` — 新 IDF 组件 `drv`，`REQUIRES phonerail_hal`
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- `test/test_ina226.c` — 17 个用例
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- `host/CMakeLists.txt` — 加 `PHONERAIL_DRV_SRCS` 与 `drv/include`
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- `main/CMakeLists.txt` — `REQUIRES phonerail_hal drv`
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## 验收命令与结果
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```
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$ bash host/test.sh
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100% tests passed, 0 tests failed out of 3 # test_hal_i2c_sim / test_hal_sim / test_version
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100% tests passed, 0 tests failed out of 4 # +test_ina226（17 个用例）
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$ .\build_idf.ps1 # PowerShell
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phonerail.bin binary size 0x32550 bytes. ... 0xcdab0 bytes (80%) free.
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Project build complete.
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Project build complete. # build/esp-idf/drv/.../ina226.c.obj 确认编到了
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```
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## 踩到的坑（只写会再犯的）
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- **组件名不能叫 `hal`**：ESP-IDF 自己有 `components/hal`（`driver` 依赖它），
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工程里同名会把它盖掉。所以叫 `phonerail_hal`。头文件名 `hal_*.h` 不冲突。
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||||
- **新增 HAL 实现要改两处 CMake**：`components/phonerail_hal/CMakeLists.txt`（esp 那份）
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||||
和 `host/CMakeLists.txt` 的 `PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS`（sim 那份）。漏一处 =
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「宿主机绿了但上板编不过」，反之亦然。`main/` 里的 .c 仍是老规矩的另外两处。
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||||
- **IDF 组件的 `SRCS` 是显式列举**，所以 `sim/` 放在组件目录里也不会被 IDF 编到。
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- **别依赖 I²C 寄存器指针自增**：sim 的假器件**会**自增，INA226 按 datasheet **不会**。
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「一次 write_read 连读 0x01~0x04」在宿主机上全绿，到板上四个量会读成同一个。
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||||
驱动每次读之前重写指针，`test_pointer_is_rewritten_before_every_read` 盯着这条。
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||||
（指针不自增这条**未在实物上验过**，B1 上板时确认。）
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- **`write_verify()` 之后 `last_write` 是那次回读的指针字节（len 1），不是刚写的三字节。**
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按「最后一次写就是我写的数据」写断言会红一次 —— 改看 `n_write`/`n_read` 计数。
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||||
- cygwin 并行链接偶发 `Error running link command: Subprocess aborted`（这次是 test_version）。
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**重跑一次就好**，不是代码问题，别去查。
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## HAL 的几条约定（写驱动前看一眼，省得回头改）
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- 16 位 I²C 寄存器一律**大端**；写事务的第一个字节是寄存器指针，指针**跨事务保持**并自增。
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- 读写长度不是 `reg_width` 整数倍 → `HAL_ERR_ARG`（真器件上是未定义行为，不许悄悄凑合）。
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- 器件不在 / `present=false` / 注入 NAK → `HAL_ERR_NAK`；**没 `hal_i2c_init()` 就用 → `HAL_ERR_STATE`**。
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||||
- **写一个没配成输出的 GPIO 返回 `HAL_ERR_ARG`**（板子上 `gpio_set_level()` 是静默无效的）。
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||||
`HAL_GPIO_INPUT_PULLUP` 配完默认读回 **1** —— 五路 FLT/PG 是开漏 + 上拉，默认 0 会被当成一直有故障。
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||||
- PWM 占空比单位是**千分比 0~1000**，应用层不需要知道 LEDC 是几位。
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- 时刻比较一律用 `hal_time_elapsed_ms()`，不要写 `now - then > x`（32 位毫秒 49.7 天回绕）。
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||||
- sim 的时钟是虚拟的：`hal_time_delay_ms()` 只把时间往前拨，测试零耗时。
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每个测试 `setUp()` 里调 `sim_hal_reset()`。
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## 这个驱动的几条约定（写 A7 / A10 之前看一眼）
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- **地址查表**：`ina226_rail_addr(rail)`，rail 是 **1~5**（不是 0~4），越界 abort。
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`ina226_all_addr[6]` 供扫描用；`ina226_addr_table_ok()` 做启动自检（含与
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DAC 0x4A/0x4B、PCA9555 0x20、LM75 0x48 的撞车检查）。
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- **单位**：`bus_mv` / `shunt_uv` / `current_ua` / `power_mw`，全是 `int32_t`。
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电流 LSB 0.5 mA ⇒ `current_ua` 一定是 500 的整数倍；−60 mA（SW-8 判据）= `-60000`。
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- **巡检走 `ina226_read_vi()`**（只读母线电压 + 电流，两次事务）——
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§10.3 那 8 % 的 I²C 占用是按「每片每 20 ms 两次事务」算的，读四个量会翻倍。
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||||
- **`HAL_ERR_BUS` 在这个驱动里有特定含义**：器件应答了但内容不对
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（probe 的 ID 不匹配 = 贴错件/地址跳线焊错；init 的回读不一致；check 的 CAL 丢了）。
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和「没这个器件」的 `HAL_ERR_NAK` 是两回事，降级矩阵（A15）要分开处理。
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- **CAL 丢了不会报错，只会让 Current/Power 恒读 0**，看上去像「这台手机不耗电」。
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||||
所以有 `ina226_check()`，巡检里定期查一次、不一致就 `ina226_init()` 重来并记事件。
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- Config 定为 **0x4327**（AVG=4、VBUSCT=VSHCT=1.1 ms、连续测量分流与母线），
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转换周期 8.8 ms < t_safety 的 20 ms。改这个值前先算一遍这个不等式。
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@@ -0,0 +1,8 @@
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# 板上器件驱动（ESP-IDF 侧）。宿主机侧由 host/CMakeLists.txt 的 PHONERAIL_DRV_SRCS 收，
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# 新增一个驱动两边都要加 —— 漏一处 = 「宿主机绿了但上板编不过」，反之亦然。
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#
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# 驱动只准依赖 phonerail_hal，不准直接包含 IDF 的头。
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idf_component_register(
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SRCS "ina226.c"
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INCLUDE_DIRS "include"
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REQUIRES phonerail_hal)
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@@ -0,0 +1,184 @@
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/* INA226 驱动。只经 hal_i2c_*，不碰任何平台头文件。 */
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#include "ina226.h"
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#include <assert.h>
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#include <stddef.h>
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||||
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||||
#include "hal_i2c.h"
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/* 设计文档 §8.2：CH1..CH5。⚠️ 不是 0x40 起顺排，CH3/CH4/CH5 三路都不是。 */
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static const uint8_t s_rail_addr[INA226_RAIL_COUNT] = { 0x40, 0x41, 0x44, 0x45, 0x42 };
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||||
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||||
const uint8_t ina226_all_addr[INA226_COUNT] = { 0x40, 0x41, 0x44, 0x45, 0x42, INA226_ADDR_INPUT };
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||||
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||||
uint8_t ina226_rail_addr(int rail)
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{
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assert(rail >= 1 && rail <= INA226_RAIL_COUNT); /* 越界是代码写错，不许悄悄返回一个地址 */
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||||
return s_rail_addr[rail - 1];
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||||
}
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||||
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||||
bool ina226_addr_table_ok(void)
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{
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||||
/* 同一条 I²C 上的其它器件（§8.2）：撞上任何一个都是硬件表被改坏了。 */
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||||
static const uint8_t others[] = { 0x4A, 0x4B, 0x20, 0x48 };
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||||
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||||
for (int i = 0; i < INA226_COUNT; i++) {
|
||||
if (ina226_all_addr[i] > 0x7f) {
|
||||
return false;
|
||||
}
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||||
for (int j = i + 1; j < INA226_COUNT; j++) {
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||||
if (ina226_all_addr[i] == ina226_all_addr[j]) {
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||||
return false;
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||||
}
|
||||
}
|
||||
for (size_t k = 0; k < sizeof(others); k++) {
|
||||
if (ina226_all_addr[i] == others[k]) {
|
||||
return false;
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||||
}
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||||
}
|
||||
}
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||||
/* 前五个必须和 rail 表逐个一致 —— 两张表分家的那天就是错一路的那天。 */
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||||
for (int i = 0; i < INA226_RAIL_COUNT; i++) {
|
||||
if (ina226_all_addr[i] != s_rail_addr[i]) {
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||||
return false;
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||||
}
|
||||
}
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||||
return true;
|
||||
}
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||||
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||||
/* ---- 寄存器读写 ---------------------------------------------------------
|
||||
⚠️ 每次读之前都重写一遍寄存器指针，**不依赖指针自增**：INA226 的指针按 datasheet
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||||
是停在最后写入值上的（未在实物上验过，B1 上板时确认）。而 sim 的假器件是**会**自增的，
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||||
所以「靠自增一次读完 0x01~0x04」在宿主机上能绿，到板上会把四个量读成同一个。 */
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||||
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||||
static hal_err_t read_reg(uint8_t addr, uint8_t reg, uint16_t *raw)
|
||||
{
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||||
uint8_t rd[2];
|
||||
hal_err_t err = hal_i2c_write_read(addr, ®, 1, rd, sizeof(rd));
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
*raw = (uint16_t)(((uint16_t)rd[0] << 8) | rd[1]); /* 大端 */
|
||||
return HAL_OK;
|
||||
}
|
||||
|
||||
static hal_err_t write_reg(uint8_t addr, uint8_t reg, uint16_t val)
|
||||
{
|
||||
const uint8_t wr[3] = { reg, (uint8_t)(val >> 8), (uint8_t)(val & 0xff) };
|
||||
return hal_i2c_write(addr, wr, sizeof(wr));
|
||||
}
|
||||
|
||||
static hal_err_t write_verify(uint8_t addr, uint8_t reg, uint16_t val)
|
||||
{
|
||||
hal_err_t err = write_reg(addr, reg, val);
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
uint16_t back = 0;
|
||||
err = read_reg(addr, reg, &back);
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
return back == val ? HAL_OK : HAL_ERR_BUS;
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- 换算 ---------------------------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
static int32_t div_round(int32_t num, int32_t den) /* 四舍五入，负数远离零 */
|
||||
{
|
||||
return num >= 0 ? (num + den / 2) / den : (num - den / 2) / den;
|
||||
}
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||||
|
||||
static int32_t s16(uint16_t raw) { return (int32_t)(int16_t)raw; }
|
||||
|
||||
static int32_t bus_mv_of(uint16_t raw) { return div_round((int32_t)raw * 5, 4); } /* 1.25 mV */
|
||||
static int32_t shunt_uv_of(uint16_t raw) { return div_round(s16(raw) * 5, 2); } /* 2.5 µV */
|
||||
static int32_t current_ua_of(uint16_t raw) { return s16(raw) * INA226_CURRENT_LSB_UA; }
|
||||
static int32_t power_mw_of(uint16_t raw) { return div_round((int32_t)raw * 25, 2); } /* 12.5 mW */
|
||||
|
||||
/* ---- 对外 ---------------------------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
hal_err_t ina226_probe(uint8_t addr)
|
||||
{
|
||||
uint16_t mfg = 0;
|
||||
hal_err_t err = read_reg(addr, INA226_REG_MFG_ID, &mfg);
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
uint16_t die = 0;
|
||||
err = read_reg(addr, INA226_REG_DIE_ID, &die);
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
/* 应答了但不是 INA226：地址跳线焊错 / 贴错件。不能当「没这个器件」混过去。 */
|
||||
return (mfg == INA226_MFG_ID && die == INA226_DIE_ID) ? HAL_OK : HAL_ERR_BUS;
|
||||
}
|
||||
|
||||
hal_err_t ina226_init(uint8_t addr)
|
||||
{
|
||||
hal_err_t err = write_verify(addr, INA226_REG_CONFIG, INA226_CONFIG);
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
return write_verify(addr, INA226_REG_CALIB, INA226_CALIB);
|
||||
}
|
||||
|
||||
hal_err_t ina226_check(uint8_t addr)
|
||||
{
|
||||
uint16_t cal = 0;
|
||||
hal_err_t err = read_reg(addr, INA226_REG_CALIB, &cal);
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
return cal == INA226_CALIB ? HAL_OK : HAL_ERR_BUS;
|
||||
}
|
||||
|
||||
#define READ_ONE(fn, conv, reg) \
|
||||
hal_err_t fn(uint8_t addr, int32_t *out) \
|
||||
{ \
|
||||
if (out == NULL) { \
|
||||
return HAL_ERR_ARG; \
|
||||
} \
|
||||
uint16_t raw = 0; \
|
||||
hal_err_t err = read_reg(addr, (reg), &raw); \
|
||||
if (err != HAL_OK) { \
|
||||
return err; \
|
||||
} \
|
||||
*out = conv(raw); \
|
||||
return HAL_OK; \
|
||||
}
|
||||
|
||||
READ_ONE(ina226_read_bus_mv, bus_mv_of, INA226_REG_BUS_V)
|
||||
READ_ONE(ina226_read_shunt_uv, shunt_uv_of, INA226_REG_SHUNT_V)
|
||||
READ_ONE(ina226_read_current_ua, current_ua_of, INA226_REG_CURRENT)
|
||||
READ_ONE(ina226_read_power_mw, power_mw_of, INA226_REG_POWER)
|
||||
|
||||
hal_err_t ina226_read_vi(uint8_t addr, ina226_vi_t *out)
|
||||
{
|
||||
if (out == NULL) {
|
||||
return HAL_ERR_ARG;
|
||||
}
|
||||
hal_err_t err = ina226_read_bus_mv(addr, &out->bus_mv);
|
||||
if (err != HAL_OK) {
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
return ina226_read_current_ua(addr, &out->current_ua);
|
||||
}
|
||||
|
||||
hal_err_t ina226_read_all(uint8_t addr, ina226_sample_t *out)
|
||||
{
|
||||
if (out == NULL) {
|
||||
return HAL_ERR_ARG;
|
||||
}
|
||||
hal_err_t err = ina226_read_bus_mv(addr, &out->bus_mv);
|
||||
if (err == HAL_OK) {
|
||||
err = ina226_read_shunt_uv(addr, &out->shunt_uv);
|
||||
}
|
||||
if (err == HAL_OK) {
|
||||
err = ina226_read_current_ua(addr, &out->current_ua);
|
||||
}
|
||||
if (err == HAL_OK) {
|
||||
err = ina226_read_power_mw(addr, &out->power_mw);
|
||||
}
|
||||
return err;
|
||||
}
|
||||
@@ -0,0 +1,103 @@
|
||||
/* INA226 —— 板上 6 片（CH1~CH5 输出各一片 + 输入侧一片），分流电阻全部 5 mΩ / 1%。
|
||||
地址表见设计文档 §8.2，**不是顺排的**，详见下面 ina226_rail_addr() 的警告。
|
||||
|
||||
本驱动只通过 hal_i2c_* 访问总线，宿主机上用 sim 的假器件即可全部测完。 */
|
||||
#ifndef INA226_H
|
||||
#define INA226_H
|
||||
|
||||
#include <stdbool.h>
|
||||
#include <stdint.h>
|
||||
|
||||
#include "hal_err.h"
|
||||
|
||||
#ifdef __cplusplus
|
||||
extern "C" {
|
||||
#endif
|
||||
|
||||
/* ---- 寄存器（全部 16 位、大端） ---------------------------------------- */
|
||||
|
||||
#define INA226_REG_CONFIG 0x00
|
||||
#define INA226_REG_SHUNT_V 0x01
|
||||
#define INA226_REG_BUS_V 0x02
|
||||
#define INA226_REG_POWER 0x03
|
||||
#define INA226_REG_CURRENT 0x04
|
||||
#define INA226_REG_CALIB 0x05
|
||||
#define INA226_REG_MASK_EN 0x06
|
||||
#define INA226_REG_ALERT_L 0x07
|
||||
#define INA226_REG_MFG_ID 0xFE
|
||||
#define INA226_REG_DIE_ID 0xFF
|
||||
|
||||
#define INA226_MFG_ID 0x5449 /* 'TI' */
|
||||
#define INA226_DIE_ID 0x2260
|
||||
|
||||
/* ---- 量程与标定（五路与输入侧同一颗分流电阻，所以是常量不是参数） ------ */
|
||||
|
||||
#define INA226_SHUNT_UOHM 5000 /* 5 mΩ，设计文档 §8.2 */
|
||||
#define INA226_CURRENT_LSB_UA 500 /* 0.5 mA —— 分流 LSB 2.5 µV ÷ 5 mΩ */
|
||||
|
||||
/* CAL = 0.00512 / (Current_LSB × R_shunt) = 0.00512 / (500 µA × 5 mΩ) = 2048 */
|
||||
#define INA226_CALIB 2048
|
||||
|
||||
/* Config：保留位 100 + AVG=4 + VBUSCT=1.1 ms + VSHCT=1.1 ms + 连续测量分流与母线。
|
||||
转换周期 4 × (1.1 + 1.1) = 8.8 ms < t_safety 的 20 ms，所以每次巡检都拿到新的一帧。 */
|
||||
#define INA226_CONFIG 0x4327
|
||||
|
||||
/* ---- 地址表（设计文档 §8.2） ------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
#define INA226_RAIL_COUNT 5
|
||||
#define INA226_COUNT 6
|
||||
#define INA226_ADDR_INPUT 0x43 /* U13，输入侧 V+I，整板功率预算用 */
|
||||
|
||||
/* CH1~CH5 → U8~U12 的地址。rail 是 1~5，越界直接 abort。
|
||||
⚠️ **`0x40 + ch` 是错的**，CH3/CH4/CH5 三路全错（0x44 / 0x45 / 0x42）。
|
||||
地址按布线难度重排过（§8.2 那张 A1/A0 表），永远查表，不要算。 */
|
||||
uint8_t ina226_rail_addr(int rail);
|
||||
|
||||
extern const uint8_t ina226_all_addr[INA226_COUNT]; /* CH1..CH5 + 输入侧，扫描用 */
|
||||
|
||||
/* 六个地址互不重复、且不与 DAC63204(0x4A/0x4B) / PCA9555(0x20) / LM75(0x48) 撞车。
|
||||
启动自检调一次；返回 false 说明表被改坏了。 */
|
||||
bool ina226_addr_table_ok(void);
|
||||
|
||||
/* ---- 采样 --------------------------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
typedef struct {
|
||||
int32_t bus_mv; /* 母线电压，1.25 mV/LSB */
|
||||
int32_t current_ua; /* **有符号** —— 反灌时为负（SW-8 靠这个判据） */
|
||||
} ina226_vi_t;
|
||||
|
||||
typedef struct {
|
||||
int32_t bus_mv;
|
||||
int32_t shunt_uv; /* 2.5 µV/LSB，四舍五入到 µV（±1.25 µV ≈ ±0.25 mA） */
|
||||
int32_t current_ua;
|
||||
int32_t power_mw; /* 12.5 mW/LSB，向零截断 */
|
||||
} ina226_sample_t;
|
||||
|
||||
/* 读 Manufacturer ID / Die ID 认件。
|
||||
器件不应答 → HAL_ERR_NAK；**应答了但 ID 不对 → HAL_ERR_BUS**
|
||||
（这个地址上有东西，但不是 INA226：多半地址跳线焊错或贴错件）。 */
|
||||
hal_err_t ina226_probe(uint8_t addr);
|
||||
|
||||
/* 写 Config 与 Calibration 并**逐个回读校验**。回读不一致 → HAL_ERR_BUS。 */
|
||||
hal_err_t ina226_init(uint8_t addr);
|
||||
|
||||
/* 只校验 Calibration 还在。掉了的现象是 **Current/Power 恒读 0**（不是报错），
|
||||
看上去就像「这台手机不耗电」，所以巡检里要定期查一次。 */
|
||||
hal_err_t ina226_check(uint8_t addr);
|
||||
|
||||
/* 巡检主路径：母线电压 + 电流，两次事务。 */
|
||||
hal_err_t ina226_read_vi(uint8_t addr, ina226_vi_t *out);
|
||||
|
||||
/* 诊断/事件记录用：四个量一次读齐，四次事务。 */
|
||||
hal_err_t ina226_read_all(uint8_t addr, ina226_sample_t *out);
|
||||
|
||||
hal_err_t ina226_read_bus_mv(uint8_t addr, int32_t *mv);
|
||||
hal_err_t ina226_read_shunt_uv(uint8_t addr, int32_t *uv);
|
||||
hal_err_t ina226_read_current_ua(uint8_t addr, int32_t *ua);
|
||||
hal_err_t ina226_read_power_mw(uint8_t addr, int32_t *mw);
|
||||
|
||||
#ifdef __cplusplus
|
||||
}
|
||||
#endif
|
||||
|
||||
#endif /* INA226_H */
|
||||
+12
-2
@@ -8,6 +8,8 @@
|
||||
# HAL 里新增一路实现则要同时加进：
|
||||
# ../components/phonerail_hal/CMakeLists.txt 的 SRCS（esp 那份）
|
||||
# 和下面的 PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS（sim 那份）
|
||||
# 新增一个器件驱动则是：
|
||||
# ../components/drv/CMakeLists.txt 的 SRCS 和 下面的 PHONERAIL_DRV_SRCS
|
||||
cmake_minimum_required(VERSION 3.16)
|
||||
project(phonerail_host C)
|
||||
|
||||
@@ -33,11 +35,19 @@ set(PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS
|
||||
${PHONERAIL_HAL_DIR}/sim/hal_time_sim.c
|
||||
)
|
||||
|
||||
add_library(phonerail_core STATIC ${PHONERAIL_CORE_SRCS} ${PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS})
|
||||
# 器件驱动：与平台无关（只经 hal_i2c_*），两个目标编的是同一份源码。
|
||||
set(PHONERAIL_DRV_DIR ${FW_ROOT}/components/drv)
|
||||
set(PHONERAIL_DRV_SRCS
|
||||
${PHONERAIL_DRV_DIR}/ina226.c
|
||||
)
|
||||
|
||||
add_library(phonerail_core STATIC
|
||||
${PHONERAIL_CORE_SRCS} ${PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS} ${PHONERAIL_DRV_SRCS})
|
||||
target_include_directories(phonerail_core PUBLIC
|
||||
${FW_ROOT}/main
|
||||
${PHONERAIL_HAL_DIR}/include
|
||||
${PHONERAIL_HAL_DIR}/sim)
|
||||
${PHONERAIL_HAL_DIR}/sim
|
||||
${PHONERAIL_DRV_DIR}/include)
|
||||
|
||||
# ---- 测试框架 Unity（从 ESP-IDF v5.4 原样复制到 third_party/，与上板测试同一套）
|
||||
add_library(unity STATIC ${FW_ROOT}/third_party/unity/unity.c)
|
||||
|
||||
@@ -5,4 +5,4 @@ idf_component_register(
|
||||
SRCS "app_main.c"
|
||||
"version.c"
|
||||
INCLUDE_DIRS "."
|
||||
REQUIRES phonerail_hal)
|
||||
REQUIRES phonerail_hal drv)
|
||||
|
||||
@@ -0,0 +1,242 @@
|
||||
/* A3：INA226 驱动 + 六片地址表。
|
||||
两个验收主项：①六个地址就是 0x40/41/44/45/42/43；②通道号 ≠ 地址低位。 */
|
||||
#include "ina226.h"
|
||||
#include "sim_hal.h"
|
||||
#include "unity.h"
|
||||
|
||||
void setUp(void) { sim_hal_reset(); }
|
||||
void tearDown(void) {}
|
||||
|
||||
/* 挂一片假 INA226 并预置 ID，返回地址。 */
|
||||
static uint8_t mount(uint8_t addr)
|
||||
{
|
||||
sim_i2c_add(addr, 2);
|
||||
sim_i2c_set_reg(addr, INA226_REG_MFG_ID, INA226_MFG_ID);
|
||||
sim_i2c_set_reg(addr, INA226_REG_DIE_ID, INA226_DIE_ID);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, hal_i2c_init(NULL));
|
||||
return addr;
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- 地址表 -------------------------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
/* ⭐ 验收主项一：设计文档 §8.2 的六个地址，逐个钉死。 */
|
||||
static void test_addr_table_is_the_one_from_8_2(void)
|
||||
{
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8(0x40, ina226_rail_addr(1));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8(0x41, ina226_rail_addr(2));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8(0x44, ina226_rail_addr(3));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8(0x45, ina226_rail_addr(4));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8(0x42, ina226_rail_addr(5));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8(0x43, INA226_ADDR_INPUT);
|
||||
|
||||
static const uint8_t want[INA226_COUNT] = { 0x40, 0x41, 0x44, 0x45, 0x42, 0x43 };
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8_ARRAY(want, ina226_all_addr, INA226_COUNT);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ⭐ 验收主项二：`0x40 + ch` 这行代码一定会被写出来（需求 §10.4），
|
||||
这条测试就是拦它的 —— 五路里有三路对不上，把表改成算式必红。 */
|
||||
static void test_channel_index_is_not_the_address_low_bits(void)
|
||||
{
|
||||
int mismatches = 0;
|
||||
for (int rail = 1; rail <= INA226_RAIL_COUNT; rail++) {
|
||||
uint8_t naive = (uint8_t)(0x40 + (rail - 1));
|
||||
if (ina226_rail_addr(rail) != naive) {
|
||||
mismatches++;
|
||||
}
|
||||
}
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT_MESSAGE(3, mismatches, "CH3/CH4/CH5 三路必须与顺排不同");
|
||||
|
||||
/* 反过来也钉一遍：拿地址低位算回通道号同样会算错。 */
|
||||
TEST_ASSERT_NOT_EQUAL(0x42, ina226_rail_addr(3)); /* CH3 是 0x44，不是 0x42 */
|
||||
TEST_ASSERT_NOT_EQUAL(0x44, ina226_rail_addr(5)); /* CH5 是 0x42，不是 0x44 */
|
||||
}
|
||||
|
||||
static void test_addr_table_has_no_collisions(void)
|
||||
{
|
||||
TEST_ASSERT_TRUE(ina226_addr_table_ok()); /* 含与 DAC/PCA9555/LM75 的撞车检查 */
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- 认件 ---------------------------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
static void test_probe_accepts_real_ina226(void)
|
||||
{
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_probe(mount(0x40)));
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 应答了但 ID 不对 = 贴错件或地址跳线焊错，必须和「没这个器件」区分开。 */
|
||||
static void test_probe_rejects_wrong_die_id(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x41);
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_DIE_ID, 0x1234);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_BUS, ina226_probe(a));
|
||||
}
|
||||
|
||||
static void test_probe_absent_device_naks(void)
|
||||
{
|
||||
mount(0x40);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_NAK, ina226_probe(0x44)); /* 没挂 */
|
||||
sim_i2c_set_present(0x40, false);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_NAK, ina226_probe(0x40)); /* 失联 */
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 需求 §12.1 步 2：六片全应答。 */
|
||||
static void test_all_six_answer_scan(void)
|
||||
{
|
||||
for (int i = 0; i < INA226_COUNT; i++) {
|
||||
mount(ina226_all_addr[i]);
|
||||
}
|
||||
for (int i = 0; i < INA226_COUNT; i++) {
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_probe(ina226_all_addr[i]));
|
||||
}
|
||||
}
|
||||
|
||||
static void test_bus_not_initialised_propagates(void)
|
||||
{
|
||||
sim_i2c_add(0x40, 2);
|
||||
int32_t mv = 0;
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_STATE, ina226_read_bus_mv(0x40, &mv));
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- 初始化 -------------------------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
static void test_init_writes_config_and_calibration(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x45);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_init(a));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX16(INA226_CONFIG, sim_i2c_get_reg(a, INA226_REG_CONFIG));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX16(2048, sim_i2c_get_reg(a, INA226_REG_CALIB));
|
||||
|
||||
/* 两个寄存器都是「写完立刻回读校验」：4 次写（两次三字节的写 + 两次一字节的
|
||||
读指针）、2 次读。最后落下的那次写就是 CAL 的读指针。 */
|
||||
const sim_i2c_dev_t *d = sim_i2c_dev(a);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(4, d->n_write);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(2, d->n_read);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT8(1, d->last_write_len);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_HEX8(INA226_REG_CALIB, d->last_write[0]);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* CAL 掉了的现象是 Current/Power 恒读 0，不是报错 —— 所以要能查出来。 */
|
||||
static void test_check_catches_lost_calibration(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x40);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_init(a));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_check(a));
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_CALIB, 0); /* 器件掉过一次电 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_BUS, ina226_check(a));
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- 换算 ---------------------------------------------------------------- */
|
||||
|
||||
/* 满载一路：4.010 V / 4 A / 16 W。5 mΩ + 0.5 mA LSB 下分流码与电流码同值。 */
|
||||
static void test_readings_at_full_load(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x44);
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_BUS_V, 3208); /* ×1.25 mV */
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_SHUNT_V, 8000); /* ×2.5 µV = 20 mV */
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_CURRENT, 8000); /* ×0.5 mA */
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_POWER, 1280); /* ×12.5 mW */
|
||||
|
||||
ina226_sample_t s = { 0, 0, 0, 0 };
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_read_all(a, &s));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(4010, s.bus_mv);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(20000, s.shunt_uv);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(4000000, s.current_ua);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(16000, s.power_mw);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ⭐ 反灌（SW-8）：电流寄存器是**有符号**的。当成无符号会得到 +32 A 这种数，
|
||||
而判据是「电流为负」，于是保护永远不触发。 */
|
||||
static void test_reverse_current_is_negative(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x42);
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_CURRENT, (uint16_t)(int16_t)-120); /* −60 mA */
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_SHUNT_V, (uint16_t)(int16_t)-120); /* −300 µV */
|
||||
|
||||
int32_t ua = 0, uv = 0;
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_read_current_ua(a, &ua));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_read_shunt_uv(a, &uv));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(-60000, ua);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(-300, uv);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 3.90 V 出厂默认值那一点，顺带看四舍五入。3120 × 1.25 = 3900 mV 整。 */
|
||||
static void test_bus_voltage_rounding(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x40);
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_BUS_V, 3120);
|
||||
int32_t mv = 0;
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_read_bus_mv(a, &mv));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(3900, mv);
|
||||
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_BUS_V, 3121); /* 3901.25 → 3901 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_read_bus_mv(a, &mv));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(3901, mv);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ⚠️ 驱动不许依赖寄存器指针自增：sim 的假器件会自增，INA226 按 datasheet 不会。
|
||||
靠自增省事的写法在这里会绿，到板上四个量全读成同一个。 */
|
||||
static void test_pointer_is_rewritten_before_every_read(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x41);
|
||||
ina226_sample_t s = { 0, 0, 0, 0 };
|
||||
sim_i2c_dev(a)->n_write = 0;
|
||||
sim_i2c_dev(a)->n_read = 0;
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_read_all(a, &s));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(4, sim_i2c_dev(a)->n_write);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(4, sim_i2c_dev(a)->n_read);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 巡检主路径：只读两个量（§10.3 那 8 % I²C 占用是按这个算的）。 */
|
||||
static void test_read_vi_uses_two_transactions(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x40);
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_BUS_V, 3120);
|
||||
sim_i2c_set_reg(a, INA226_REG_CURRENT, 4000);
|
||||
sim_i2c_dev(a)->n_read = 0;
|
||||
|
||||
ina226_vi_t vi = { 0, 0 };
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_OK, ina226_read_vi(a, &vi));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(3900, vi.bus_mv);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT32(2000000, vi.current_ua);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(2, sim_i2c_dev(a)->n_read);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 器件中途失联：错误必须一路传上去，不能返回一个看着正常的 0。 */
|
||||
static void test_read_propagates_nak(void)
|
||||
{
|
||||
uint8_t a = mount(0x45);
|
||||
sim_i2c_inject_nak(a, -1);
|
||||
ina226_vi_t vi = { 123, 456 };
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_NAK, ina226_read_vi(a, &vi));
|
||||
}
|
||||
|
||||
static void test_null_output_rejected(void)
|
||||
{
|
||||
mount(0x40);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_ARG, ina226_read_vi(0x40, NULL));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_ARG, ina226_read_all(0x40, NULL));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(HAL_ERR_ARG, ina226_read_bus_mv(0x40, NULL));
|
||||
}
|
||||
|
||||
int main(void)
|
||||
{
|
||||
UNITY_BEGIN();
|
||||
RUN_TEST(test_addr_table_is_the_one_from_8_2);
|
||||
RUN_TEST(test_channel_index_is_not_the_address_low_bits);
|
||||
RUN_TEST(test_addr_table_has_no_collisions);
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RUN_TEST(test_probe_accepts_real_ina226);
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RUN_TEST(test_probe_rejects_wrong_die_id);
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RUN_TEST(test_probe_absent_device_naks);
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RUN_TEST(test_all_six_answer_scan);
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RUN_TEST(test_bus_not_initialised_propagates);
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RUN_TEST(test_init_writes_config_and_calibration);
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RUN_TEST(test_check_catches_lost_calibration);
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RUN_TEST(test_readings_at_full_load);
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RUN_TEST(test_reverse_current_is_negative);
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RUN_TEST(test_bus_voltage_rounding);
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RUN_TEST(test_pointer_is_rewritten_before_every_read);
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RUN_TEST(test_read_vi_uses_two_transactions);
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RUN_TEST(test_read_propagates_nak);
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RUN_TEST(test_null_output_rejected);
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return UNITY_END();
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}
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@@ -403,6 +403,13 @@ typedef struct {
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> ⚠️ **`ina_addr = 0x40 + ch` 这行代码一定会被写出来，而且只有 CH3/CH4/CH5 是错的。**
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> 实际地址是 `0x40 / 0x41 / 0x44 / 0x45 / 0x42`。查表，不要算。
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> **A3 已落地**：表在 `firmware/components/drv/include/ina226.h`，取值只走
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> `ina226_rail_addr(rail)`（rail 是 1~5，越界 abort），
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> `test_channel_index_is_not_the_address_low_bits` 专门拦「改回算式」这一手。
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> 同处还记了两条 INA226 的实现约定：**寄存器指针不自增**（每次读前重写指针，
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> sim 会自增、真件不会，靠自增在宿主机上测不出来）；**Calibration 丢了不报错、
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> 只让 Current/Power 恒读 0**，所以巡检要定期 `ina226_check()`。
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同理，**PCA9555 的方向寄存器只能配成全输入**：备用脚 Port0[7] / Port1[7:5] 在硬件上
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直接接地，配成输出并写 1 就是对地短路（设计文档 §17.2 已在图纸上注明）。
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在新工单中引用
屏蔽一个用户