 zhou yang和Claude Opus 5.5
|
b8ad69681f
|
固件：R2 迁移 R-0 ~ R-6（底板 + 5 片同构刀片）
2026-09-16 完成、当时未提交，这里补提交（原样，不含 09-27 上板的修改）。
- 器件层 / 拓扑层整体从 R1 换到 R2：TCA9548A 分通道、五路同址 INA226 0x40 + 输入侧 0x43、
刀片 PCA9555（VBUS_EN 挪到 P0.4）、CH224A 只读驱动、风扇闭环 t_thermal
- 新增 i2cbus（mux 原子事务）、slot（刀片 I/O 门面）、host/qtest.sh
- 74HC595 链退役（代码与测试保留）
- 判据阈值与时间常量未动；19 个 ctest 全绿，idf.py build 通过
Co-Authored-By: Claude Opus 5.5 <[email protected]>
|
2026-09-27 10:26:24 +08:00 |
|
|
zhou yang和Claude Opus 5
|
18d3d69856
|
A11：事件日志（环形缓冲 + 落盘）
事件从 evlog_put*() 进一个 256 条的 RAM 环（临界区里两条指令，**不阻塞、
不碰 flash**），由最低优先级的 t_log 攒够 16 条或最老那条等满 1 s 时批量写进
新的 `evlog` 分区（17 扇区 × 4 KB = **4335 条**）。A10 的事件出口原样接上，
判据那一层一个字没动。
八条实现约定（详见需求文档 §10.7）：
· 落盘不用 NVS 也不用 SPIFFS，是一块裸 data 分区 —— NVS 的页式 GC 会把
「写一条事件」变成一次不可预测的搬移。HAL 因此多出第六样 hal_store；
· 17 个扇区不是 16：每扇区要拿一个 16 B 的槽当扇区头，4 KB 只装 255 条，
16 扇区 = 4080，差 16 条不到 §10.7 要求的 4096；
· 序号 = flash 里的位置（epoch × 255 + 槽号），不是自增计数器 —— 重启接着数
不用存计数器；代价是没落盘的事件还没有序号，A12 读之前要先 flush；
· 入队走关中断的临界区，**不是第三把锁**：入队方是最高优先级的 t_safety，
停在一把 t_log 持着的锁上等于让最低优先级的任务决定巡检节拍；
· 丢事件可以，悄悄丢不行 —— 缓冲满了盖最旧的，但补一条 LOG_EV_LOST 记着丢了几条；
· 每条记录带 CRC-8（见下），写失败就放弃该扇区剩余部分，被放弃的那段在序号
空间里是个洞，读回时给一条空记录占位（跳过的话上位机游标会卡住）；
· 每次上电记一条 LOG_EV_BOOT：时间戳上电从 0 计，没有它两次上电的记录会穿插。
事件类型的数字是 flash 格式的一部分，只许往末尾加；safety_ev_t → log_ev_t
是显式 switch 不是加偏移。§10.7 里还没人产生的六类号已占住（A12/A15/A16 去填）。
27 个用例；23 条注错逐个跑过，21 条变红。第一版校验和用异或，漏掉的正是最常见
的那条：payload 全 0 的记录被掉电切在第 8 个字节上时，后 8 个字节留在 0xFF，
而 8 个 0xFF 的异或恰好是 0 —— 半条的校验和与整条一模一样，扫描把半条当成
一条真事件。换成 CRC-8 之后拦住。另外两个只在这里才踩得到的坑：「掉电重启」
不能用 sim_hal_reset()（那是换新板子，flash 一起擦，测试永远绿），为此加了
sim_hal_reboot()；「读到洞就跳过」这个错被测试里 static 数组的零初始化掩盖过
一次，缓冲要先填成非零。
Co-Authored-By: Claude Opus 5 <[email protected]>
|
2026-09-07 09:20:02 +08:00 |
|
|
zhou yang和Claude Opus 5
|
ec31891429
|
A8：任务骨架与调度（5 个任务、两把锁）
需求 §10.3 落地。四件事：
1. 五任务表（tasks.c）：周期与优先级写在一张 const 表里，开机自检查的是
相对顺序（safety 唯一最高、log 唯一最低、thermal 与 actuator 同级），
外加「巡检周期必须长于 INA226 一帧转换 8.8 ms」。不过就 abort。
2. 节拍器（sched.c）：记下一次该醒的绝对时刻，回绕安全（int32_t 差判先后）。
过载时跳过错过的整周期、保住相位，不补跑。
3. 两把锁（hal_lock）：I²C 与 74HC595，禁止嵌套持有 —— 这块板上两者没有交集，
「拿着 A 去拿 B」永远是写错了。ESP 侧用 mutex 取优先级继承。
4. t_safety 的一个周期：拿锁 → 6 片 INA226 的 V+I + PCA9555 两端口 → 放锁。
不死等锁（5 ms 超时就跳过这圈），一片读失败不中断整圈、保留上一圈的值。
I²C 占用由 HAL 按线上真实字节数记账（两个目标同一份代码），静态预算与实测
必须相等：一次寄存器读 48 位，一圈 13 次事务 = 1560 µs / 20 ms = 7.8 %，
与 §10.3 手算的「约 1.5 ms / 约 8 %」相符（本节的 46 位没数 STOP 和重复 START）。
sim 侧配套两样：假 I²C 事务真的把虚拟时钟花掉（否则时序测试是空话），
以及可强制的加锁纪律检查（配一条反向测试，防止检查本身失灵）。
11 条 ctest（161 例）全绿，idf.py build 通过；16 个注错实验全部变红。
Co-Authored-By: Claude Opus 5 <[email protected]>
|
2026-09-07 07:35:39 +08:00 |
|