A3：INA226 驱动 + 六片地址表
地址表按设计文档 §8.2 钉死（0x40/41/44/45/42 + 输入侧 0x43），只走 ina226_rail_addr()，并有一条测试专门拦「ina_addr = 0x40 + ch」这一手 （CH3/CH4/CH5 三路全错，需求 §10.4）。 驱动只经 hal_i2c_*：认件（MFG/DIE ID）、写 Config 0x4327 + CAL 2048 并 回读校验、读 V/I/分流/功率。电流有符号，反灌为负（SW-8 判据）。 巡检走 read_vi()，每片两次事务，对应 §10.3 的 8% I²C 占用。 两条留给下次的坑：寄存器指针不依赖自增（sim 会自增、真件不会，靠自增 在宿主机上测不出来）；CAL 丢了不报错只让 Current/Power 恒读 0，所以 有 ina226_check()。 Co-Authored-By: Claude Opus 5 <[email protected]> Claude-Session: https://claude.ai/code/session_01QYuExfgyYa6DzRRcUso8M8
这个提交包含在：
zhou yang
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# 交接
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更新：2026-09-06 完成任务包 **A2**（HAL 接口 + sim 实现）
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更新：2026-09-06 完成任务包 **A3**（INA226 驱动 + 六片地址表）
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## 一句话现状
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四路 HAL（i2c / gpio / pwm / time）的接口定死了，两套实现都在：
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宿主机链 `sim/`（假 I²C 器件 + 虚拟时钟 + 故障注入），ESP32-S3 链 `esp/`（IDF v5.4 新版
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`i2c_master` / gpio / LEDC / esp_timer）。3 条 ctest（16 个用例）全绿，`idf.py build` 零警告。
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六片 INA226 的地址表钉死在代码里（`0x40/41/44/45/42` + 输入侧 `0x43`），
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驱动能认件（MFG/DIE ID）、写 Config+CAL 并回读校验、读出 V / I / 分流 / 功率，
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电流**有符号**（反灌为负）。4 条 ctest（34 个用例）全绿，`idf.py build` 通过。
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## 下一步
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**A3**：INA226 驱动 + 六片地址表（`0x40/41/44/45/42/43`，设计文档 §8.2）。
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驱动只准通过 `hal_i2c_*` 访问总线；测试用 `sim_i2c_add(addr, 2)` 挂假器件、
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`sim_i2c_set_reg()` 预置值。**16 位寄存器是大端**，sim 已按大端实现。
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**A4**：DAC63204 驱动 + `rail_set_mv()`（需求 §10.5 全节）。
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三条断言：①4020 mV 被拒（SR-13）②**写更大的码值输出更低**（反向关系）③3900 mV ↔ Vd 0.548 V。
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地址 `0x4A`（U6：CH1~3）/ `0x4B`（U7：CH4~5），同样查表不要算。
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## 本次新增/修改的文件
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- `components/phonerail_hal/include/hal_{err,i2c,gpio,pwm,time}.h` — 接口（唯一的对外契约）
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- `components/phonerail_hal/hal_err.c` — 两个目标共用的错误码字符串
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- `components/phonerail_hal/esp/hal_{i2c,gpio,pwm,time}_esp.c` — ESP-IDF 实现
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- `components/phonerail_hal/sim/sim_hal.h` — **假板子的控制面**（应用代码不许包含）
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- `components/phonerail_hal/sim/{sim_hal,hal_i2c_sim,hal_gpio_sim,hal_pwm_sim,hal_time_sim}.c`
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- `components/phonerail_hal/CMakeLists.txt` — IDF 组件（只收 `esp/`，不收 `sim/`）
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- `test/test_hal_i2c_sim.c`、`test/test_hal_sim.c` — 本包的测试
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- `host/CMakeLists.txt` — 加 `PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS` 与两个 include 目录
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- `main/CMakeLists.txt` — `REQUIRES phonerail_hal`；`main/app_main.c` 调一次 HAL 保证链接
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- `../固件开发计划.md` §4.1 — 记下组件重名那个坑
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- `components/drv/include/ina226.h` — 寄存器、量程常量、地址表、采样结构（唯一对外契约）
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- `components/drv/ina226.c` — 驱动本体（≈170 行，只经 `hal_i2c_*`）
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- `components/drv/CMakeLists.txt` — 新 IDF 组件 `drv`，`REQUIRES phonerail_hal`
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- `test/test_ina226.c` — 17 个用例
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- `host/CMakeLists.txt` — 加 `PHONERAIL_DRV_SRCS` 与 `drv/include`
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- `main/CMakeLists.txt` — `REQUIRES phonerail_hal drv`
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## 验收命令与结果
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$ bash host/test.sh
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100% tests passed, 0 tests failed out of 3 # test_hal_i2c_sim / test_hal_sim / test_version
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100% tests passed, 0 tests failed out of 4 # +test_ina226（17 个用例）
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$ .\build_idf.ps1 # PowerShell
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phonerail.bin binary size 0x32550 bytes. ... 0xcdab0 bytes (80%) free.
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Project build complete.
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Project build complete. # build/esp-idf/drv/.../ina226.c.obj 确认编到了
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```
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## 踩到的坑（只写会再犯的）
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- **组件名不能叫 `hal`**：ESP-IDF 自己有 `components/hal`（`driver` 依赖它），
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工程里同名会把它盖掉。所以叫 `phonerail_hal`。头文件名 `hal_*.h` 不冲突。
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- **新增 HAL 实现要改两处 CMake**：`components/phonerail_hal/CMakeLists.txt`（esp 那份）
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和 `host/CMakeLists.txt` 的 `PHONERAIL_HAL_SIM_SRCS`（sim 那份）。漏一处 =
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「宿主机绿了但上板编不过」，反之亦然。`main/` 里的 .c 仍是老规矩的另外两处。
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- **IDF 组件的 `SRCS` 是显式列举**，所以 `sim/` 放在组件目录里也不会被 IDF 编到。
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- **别依赖 I²C 寄存器指针自增**：sim 的假器件**会**自增，INA226 按 datasheet **不会**。
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「一次 write_read 连读 0x01~0x04」在宿主机上全绿，到板上四个量会读成同一个。
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驱动每次读之前重写指针，`test_pointer_is_rewritten_before_every_read` 盯着这条。
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（指针不自增这条**未在实物上验过**，B1 上板时确认。）
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- **`write_verify()` 之后 `last_write` 是那次回读的指针字节（len 1），不是刚写的三字节。**
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按「最后一次写就是我写的数据」写断言会红一次 —— 改看 `n_write`/`n_read` 计数。
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- cygwin 并行链接偶发 `Error running link command: Subprocess aborted`（这次是 test_version）。
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**重跑一次就好**，不是代码问题，别去查。
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## HAL 的几条约定（写驱动前看一眼，省得回头改）
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- 16 位 I²C 寄存器一律**大端**；写事务的第一个字节是寄存器指针，指针**跨事务保持**并自增。
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- 读写长度不是 `reg_width` 整数倍 → `HAL_ERR_ARG`（真器件上是未定义行为，不许悄悄凑合）。
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- 器件不在 / `present=false` / 注入 NAK → `HAL_ERR_NAK`；**没 `hal_i2c_init()` 就用 → `HAL_ERR_STATE`**。
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- **写一个没配成输出的 GPIO 返回 `HAL_ERR_ARG`**（板子上 `gpio_set_level()` 是静默无效的）。
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`HAL_GPIO_INPUT_PULLUP` 配完默认读回 **1** —— 五路 FLT/PG 是开漏 + 上拉，默认 0 会被当成一直有故障。
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- PWM 占空比单位是**千分比 0~1000**，应用层不需要知道 LEDC 是几位。
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- 时刻比较一律用 `hal_time_elapsed_ms()`，不要写 `now - then > x`（32 位毫秒 49.7 天回绕）。
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- sim 的时钟是虚拟的：`hal_time_delay_ms()` 只把时间往前拨，测试零耗时。
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每个测试 `setUp()` 里调 `sim_hal_reset()`。
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## 这个驱动的几条约定（写 A7 / A10 之前看一眼）
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- **地址查表**：`ina226_rail_addr(rail)`，rail 是 **1~5**（不是 0~4），越界 abort。
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`ina226_all_addr[6]` 供扫描用；`ina226_addr_table_ok()` 做启动自检（含与
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DAC 0x4A/0x4B、PCA9555 0x20、LM75 0x48 的撞车检查）。
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- **单位**：`bus_mv` / `shunt_uv` / `current_ua` / `power_mw`，全是 `int32_t`。
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电流 LSB 0.5 mA ⇒ `current_ua` 一定是 500 的整数倍；−60 mA（SW-8 判据）= `-60000`。
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- **巡检走 `ina226_read_vi()`**（只读母线电压 + 电流，两次事务）——
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§10.3 那 8 % 的 I²C 占用是按「每片每 20 ms 两次事务」算的，读四个量会翻倍。
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- **`HAL_ERR_BUS` 在这个驱动里有特定含义**：器件应答了但内容不对
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（probe 的 ID 不匹配 = 贴错件/地址跳线焊错；init 的回读不一致；check 的 CAL 丢了）。
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和「没这个器件」的 `HAL_ERR_NAK` 是两回事，降级矩阵（A15）要分开处理。
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- **CAL 丢了不会报错，只会让 Current/Power 恒读 0**，看上去像「这台手机不耗电」。
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所以有 `ina226_check()`，巡检里定期查一次、不一致就 `ina226_init()` 重来并记事件。
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- Config 定为 **0x4327**（AVG=4、VBUSCT=VSHCT=1.1 ms、连续测量分流与母线），
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转换周期 8.8 ms < t_safety 的 20 ms。改这个值前先算一遍这个不等式。
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在新工单中引用
屏蔽一个用户