A10:安全巡检的判据(SR-5 / SW-8)

判据全在 t_safety_step() 里、**放锁之后**、直接写引脚(§10.3 原话:不经任何
队列或抽象层):

  SR-5   |实测 − 该路设定值| > 100 mV **连着两圈** → 先断 VBUS 再关 eFuse
  SW-8   I < −50 mA,或 VBUS 期间电压被顶高 > +100 mV → **一圈就断 VBUS**

七条实现约定(详见需求文档 §10.2):

· 「持续 20 ms」数的是圈,不是墙钟毫秒;
· 反灌不设确认窗口,与过压那 20 ms 的不对称是有意的 —— 误断 VBUS 只丢一次
  USB 数据,漏判会把能量泵回 12V 母线连累另外四台(设计文档 §15.2);
· 判据只在「该路该有电 + 这一圈的值新鲜 + 过了 60 ms 缓启动窗口」时武装
  (对应 §10.10 的「盲跑 → 保持供电,禁用该路判据」);
· 比的是该路 DAC 设定值的影子,不是 3900 这个常数(SW-4 要单路微调);
· SR-5 关路关干净(不留「只靠 USB 供着电」的窗口),SW-8 只断 VBUS 不碰 eFuse;
· 断电之前先 t_actuator_abort(),断 VBUS 时只打断 EDL(只有它写 VBUS_EN);
· 动作在前、记录在后,事件走回调出去,A11 在那儿接环形缓冲。

判据一条 I²C 事务都不发(设定值、两根 EN、正在跑的序列全部走影子),
§10.3 那 7.8 % 的预算不变。顺带新增两处影子:rail_efuse_is_on()/rail_vbus_is_on()
与 rail_setpoint_mv(),都**只在写成功时更新**,两个方向都倒向安全的那一侧。

29 个用例;25 条注错逐个跑过,24 条变红。第一版把「持续 20 ms」按墙钟算,
测试一半红一半绿 —— 巡检的采样时刻带亚毫秒残差(一圈占 1.56 ms 总线,
而睡到下一拍按整毫秒算),相邻两次判据的时刻是 21/19 ms 交替,19 ms 那一半
要拖到第三圈 = 40 ms,超验收且间歇性。改成数圈之后一次不飘,
并留了一条跑 20 轮、两种相位都踩得到的回归拦网。

Co-Authored-By: Claude Opus 5 <[email protected]>
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zhou yang
2026-09-07 08:41:53 +08:00
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@@ -106,6 +106,20 @@ hal_err_t rail_en_init(void);
hal_err_t rail_efuse_enable(int rail, bool on);
hal_err_t rail_vbus_enable(int rail, bool on);
/* 这两根线**最后一次成功写进去**的值(上电与 `rail_en_init()` 之后都是 false)。
存在的理由是 A10 的判据要知道「这一路现在该不该有电」:关着的路电压本来就是 0,
拿它去和设定值比,每一圈都会得出「偏低 3900 mV」,于是巡检会没完没了地
「再关一次已经关着的路」并刷事件。判据只在这两个影子为 true 时武装。
⚠️ **只在写成功时更新**,而且方向是有讲究的:关的那一次写失败 ⇒ 影子留在 on
⇒ 判据继续武装(还会再关一次);开的那一次写失败 ⇒ 影子留在 off
⇒ 判据不武装(不会对着一路没开成的电报偏差)。两边都倒向安全的那一侧。
—— 不去读回引脚,是因为 `hal_gpio_read()` 读输出脚在两个目标上的语义不一样,
而这里要的本来就是「固件的意图」,不是「线上的电平」。 */
bool rail_efuse_is_on(int rail);
bool rail_vbus_is_on(int rail);
/* 五路全关:**先断 VBUS 再关 eFuse**,中间不留「只靠 USB 供着电」的窗口。
十个脚全部试一遍,不因为某一个失败就提前返回 —— 关电路径上「剩下九个也别关了」
是最坏的选择。返回第一个错误码(全成功就是 HAL_OK)。