固件 0.1.4-c5：整片刀片不应答（INA226 + PCA9555 同时 NAK 200 ms）⇒ 关这一路
- t_safety：eFuse 开着、本路两颗都 NAK 连续 10 圈 ⇒ abort + 关 eFuse，新事件 20 BLADE_MUTE； 只关 eFuse，不再写刚 NAK 过的 PCA9555。只有一颗不答应仍按 §10.10 盲跑、保持供电 - 起因：板 B 第 2 槽 PRSNT2# 卡低，刀片挪走后空槽 eFuse 开了约 4 h，原判据一条没响 - 需求 §10.10 加一行 + 表后第 3 条；rack 事件 20 命名并标红 - 宿主机 26 ctest 全绿（test_t_safety_rules +4 例） Co-Authored-By: Claude Opus 5.5 <[email protected]>
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zhou yang
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-1
@@ -1,5 +1,12 @@
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# 交接
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更新：2026-09-28 固件 **0.1.3-c5**（status 加 `host`）；板 B 经 OTA 推上（热重启，第 1 路没断电）
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更新：2026-09-28 固件 **0.1.4-c5**（整片刀片不应答 ⇒ 关路）；板 B 经 OTA 推上
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## 0.1.4：整片刀片不应答 ⇒ 关这一路（2026-09-28，用户拍板）
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- `t_safety` 每路锁内：eFuse 开着、本路 INA226 **和** PCA9555 同时 NAK，连续 `T_SAFETY_BLADE_MUTE_N` = 10 圈（200 ms）
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⇒ abort 序列 + 关 eFuse，记新事件 **20 `LOG_EV_BLADE_MUTE`**。只关 eFuse、不去写那片 PCA9555（刚 NAK 过，再写只白等 IDF 超时）。
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- §10.10 前两行（只有一颗不答应 ⇒ 盲跑 / 不关输出）**不变**，`test_a_blind_rail_keeps_its_power` 原样；需求 §10.10 新增一行 + 表后第 3 条。
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- 起因：板 B 第 2 槽 `PRSNT2#` 卡低（见 0.1.3），刀片挪走后空槽 eFuse 开了约 4 h，原有判据一条都没响。
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- 宿主机 26 ctest 全绿（`test_t_safety_rules` 39 → 43 例，`test_evlog` 事件号 20）。rack 已同步事件 20（标红）。
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## 0.1.3：上游电脑在不在进遥测（2026-09-28）
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- `UP_VBUS_DET`（IO6，R721/R722 分压，R722 下拉）启动时配成输入；status 新增 `"host":true|false|null`（读不到 null）。
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||||
@@ -217,6 +217,7 @@ log_ev_t evlog_from_safety(uint8_t safety_ev)
|
||||
case SAFETY_EV_PUSHED_UP: return LOG_EV_PUSHED_UP;
|
||||
case SAFETY_EV_MUX_LOST: return LOG_EV_MUX_LOST;
|
||||
case SAFETY_EV_SLOT_EMPTY: return LOG_EV_SLOT_EMPTY;
|
||||
case SAFETY_EV_BLADE_MUTE: return LOG_EV_BLADE_MUTE;
|
||||
case SAFETY_EV_NONE: break;
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||||
}
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||||
return LOG_EV_NONE;
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||||
@@ -574,6 +575,7 @@ const char *evlog_ev_str(log_ev_t ev)
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||||
case LOG_EV_PG_TIMEOUT: return "上电等不到PG";
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||||
case LOG_EV_OTA: return "固件升级";
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||||
case LOG_EV_BOOT_CHECK: return "开机重按";
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||||
case LOG_EV_BLADE_MUTE: return "刀片不应答关路";
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||||
case LOG_EV_COUNT: break;
|
||||
}
|
||||
return "?";
|
||||
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||||
@@ -88,6 +88,11 @@ typedef enum {
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||||
频繁出现 = 这一台的电源键弹片和刀片铜盘接触不良（2026-09-28 板 B 第 1 路）。 */
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||||
LOG_EV_BOOT_CHECK = 19,
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||||
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||||
/* 0.1.4 新增：整片刀片不应答（本路 INA226 + PCA9555 连续 10 圈都 NAK，eFuse 开着）⇒ 关这一路。
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||||
`t_safety.h` 的 `T_SAFETY_BLADE_MUTE_N`。bus_mv / current_ua 是上一次读到的旧值，仅供参考。
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||||
出现 = 这一槽 `PRSNT#` 假在位，或刀片的 I²C 整个断了。 */
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||||
LOG_EV_BLADE_MUTE = 20,
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||||
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||||
LOG_EV_COUNT,
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||||
} log_ev_t;
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||||
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||||
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@@ -3,7 +3,7 @@
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||||
#define PHONERAIL_H
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||||
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||||
/* 固件版本。规则：<主>.<次>.<修订>-<最后完成的任务包> */
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||||
#define PHONERAIL_FW_VERSION "0.1.3-c5"
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||||
#define PHONERAIL_FW_VERSION "0.1.4-c5"
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||||
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||||
/* 通道数。五路直供，见设计文档 §2。 */
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||||
#define PHONERAIL_RAIL_COUNT 5
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||||
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||||
+23
-1
@@ -43,6 +43,8 @@ const char *t_safety_ev_str(safety_ev_t ev)
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||||
return "mux失联全断";
|
||||
case SAFETY_EV_SLOT_EMPTY:
|
||||
return "刀片不在位";
|
||||
case SAFETY_EV_BLADE_MUTE:
|
||||
return "刀片不应答关路";
|
||||
default:
|
||||
return "?";
|
||||
}
|
||||
@@ -183,7 +185,27 @@ static hal_err_t cycle_rail(void *arg)
|
||||
}
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 判据就在这里跑：断 VBUS 要在本路通道选好、锁还持着的此刻（规矩 3）。 */
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||||
/* 整片刀片不应答（T_SAFETY_BLADE_MUTE_N 的理由）。**不走 `trip_rail_locked()`**：
|
||||
它要先写这片 PCA9555 断 VBUS，而这片刚刚 NAK 过 —— 再发一次只是白等十几 ms 的
|
||||
IDF NAK 超时、把本圈预算吃光（规矩 4）。只关 eFuse（锁外，GPIO 直连，永远关得掉）。
|
||||
判据本身不发任何事务：两个 ok 位是上面刚读出来的。 */
|
||||
safety_rail_t *st = &s->st[rail - 1];
|
||||
if (rail_efuse_is_on(rail) && !s->rail_ok[rail - 1] && !s->io_ok[rail - 1]) {
|
||||
if (st->mute_n < 0xFF) {
|
||||
st->mute_n++;
|
||||
}
|
||||
if (st->mute_n >= T_SAFETY_BLADE_MUTE_N) {
|
||||
st->pend_abort = true;
|
||||
st->pend_efuse = true;
|
||||
st->pend_ev = (uint8_t)SAFETY_EV_BLADE_MUTE;
|
||||
/* 同 SR-5：不清零。关掉之后下一圈 en 为 false 自然清；写引脚失败的话下一圈立刻再关。 */
|
||||
}
|
||||
} else {
|
||||
st->mute_n = 0;
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 判据就在这里跑：断 VBUS 要在本路通道选好、锁还持着的此刻（规矩 3）。
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||||
rail_ok 为 false 时它第一道闸就返回，不会盖掉上面攒下的 BLADE_MUTE。 */
|
||||
judge_locked(s, rail, a->now);
|
||||
return first;
|
||||
}
|
||||
|
||||
@@ -118,6 +118,16 @@ extern "C" {
|
||||
在拿旧数据跑判据。判定成立之后**先脉冲一次 `MUX_RST#`**，再不行才全断。 */
|
||||
#define T_SAFETY_MUX_FAIL_N 3
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||||
|
||||
/* ⭐ 0.1.4：**整片刀片不应答**（本路 INA226 与 PCA9555 **同时** NAK）连续多少圈就关这一路。
|
||||
与 §10.10 第一行「INA226 无应答 → 盲跑、保持供电」不冲突：那一行是**一颗**器件坏了，
|
||||
刀片上的另一颗还答应；两颗都不答应而 mux 是好的（选不中的话本路读函数根本不会被调，
|
||||
计不进来），只剩两种可能 ——
|
||||
· 刀片根本不在，是 `PRSNT#` 假在位（2026-09-28 板 B 第 2 槽：卡低之后空槽 eFuse 开了约 4 h）；
|
||||
· 刀片在，但这一路完全失控：看不到 V/I、看不到 PG/FLT、**连 VBUS 都断不了**。
|
||||
两种都是「继续供电但看不见」，和 mux 失联全断同一个道理，只是范围是一路。
|
||||
10 圈 = 200 ms：本板实测单路 9 万圈 0 次 NAK，连续 10 次不是毛刺；空槽带 12 V 多 200 ms 无所谓。 */
|
||||
#define T_SAFETY_BLADE_MUTE_N 10
|
||||
|
||||
/* ---- A10：事件（§10.7 的「单条」形状） -----------------------------------
|
||||
A11 把这条记录塞进环形缓冲，这里只负责**产生**它。 */
|
||||
|
||||
@@ -130,6 +140,8 @@ typedef enum {
|
||||
/* ⭐ R2 新增两条（计划 §5.8）。放在**末尾**：`evlog` 那边的数字是 flash 格式。 */
|
||||
SAFETY_EV_MUX_LOST, /* TCA9548A 连续选不中 ⇒ 五路全部断电（单点） */
|
||||
SAFETY_EV_SLOT_EMPTY, /* `PRSNT#` 为高（刀片不在位）⇒ 这一路不许带电 */
|
||||
/* 0.1.4，同样只许加在末尾。 */
|
||||
SAFETY_EV_BLADE_MUTE, /* 本路 INA226 + PCA9555 连续 T_SAFETY_BLADE_MUTE_N 圈都不应答 ⇒ 关这一路 */
|
||||
} safety_ev_t;
|
||||
|
||||
typedef struct {
|
||||
@@ -153,6 +165,7 @@ typedef struct {
|
||||
bool en_on; /* 上一圈看到的 `EFUSE_EN` 影子，用来认它的上升沿 */
|
||||
uint32_t en_ms; /* 上升沿的时刻，缓启动窗口从这里算（这个是真按毫秒的） */
|
||||
uint8_t dev_n; /* 连着几圈越界了。回到范围内 / 这一路被关掉就清零 */
|
||||
uint8_t mute_n; /* 开着电、整片刀片连着几圈不应答。任一颗答应了 / 这一路关着就清零 */
|
||||
|
||||
/* 本圈锁内判据留给锁外的两件事（规矩 3：VBUS 锁内断，eFuse 锁外关）。 */
|
||||
uint8_t pend_ev; /* safety_ev_t，0 = 没有 */
|
||||
|
||||
@@ -87,7 +87,8 @@ static void test_flash_format_is_frozen(void)
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(17, LOG_EV_PG_TIMEOUT); /* A15 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(18, LOG_EV_OTA); /* C2 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(19, LOG_EV_BOOT_CHECK); /* 0.1.2 开机校验 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(20, LOG_EV_COUNT);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(20, LOG_EV_BLADE_MUTE); /* 0.1.4 刀片不应答 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(21, LOG_EV_COUNT);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* §10.7 的「必记事件」有八类，A10 只产生其中两类。剩下的号先占住，
|
||||
@@ -129,6 +130,7 @@ static void test_the_safety_mapping_is_explicit(void)
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(LOG_EV_UNDER_VOLT, evlog_from_safety(SAFETY_EV_UNDER_VOLT));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(LOG_EV_REVERSE, evlog_from_safety(SAFETY_EV_REVERSE));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(LOG_EV_PUSHED_UP, evlog_from_safety(SAFETY_EV_PUSHED_UP));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(LOG_EV_BLADE_MUTE, evlog_from_safety(SAFETY_EV_BLADE_MUTE));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(LOG_EV_NONE, evlog_from_safety(SAFETY_EV_NONE));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(LOG_EV_NONE, evlog_from_safety(200)); /* 认不出的不许瞎猜 */
|
||||
|
||||
@@ -161,6 +163,7 @@ static void test_the_safety_mapping_is_a_table_not_an_offset(void)
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(4, SAFETY_EV_PUSHED_UP);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(5, SAFETY_EV_MUX_LOST);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(6, SAFETY_EV_SLOT_EMPTY);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(7, SAFETY_EV_BLADE_MUTE);
|
||||
|
||||
/* 逐对：safety 号 → flash 号，两边都是裸数字。 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, (int)evlog_from_safety(0)); /* NONE */
|
||||
@@ -170,6 +173,7 @@ static void test_the_safety_mapping_is_a_table_not_an_offset(void)
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(6, (int)evlog_from_safety(4)); /* PUSHED_UP */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(14, (int)evlog_from_safety(5)); /* MUX_LOST */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(15, (int)evlog_from_safety(6)); /* SLOT_EMPTY */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(20, (int)evlog_from_safety(7)); /* BLADE_MUTE（0.1.4） */
|
||||
|
||||
/* 而且这张表**在数学上不可能**是一个偏移：前四对差 2，后两对差 9。
|
||||
写死这一条，是为了让「改成偏移」这件事在用例名上就说得清楚，
|
||||
@@ -178,8 +182,8 @@ static void test_the_safety_mapping_is_a_table_not_an_offset(void)
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(9, (int)evlog_from_safety(5) - (int)SAFETY_EV_MUX_LOST);
|
||||
|
||||
/* 越过表尾的号一律 NONE。偏移写法在这里会算出一个**越界但合法**的
|
||||
`log_ev_t`（7 → 记成 eFuse 故障，200 → 记成 202 这种根本没有的号）。 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, (int)evlog_from_safety(7));
|
||||
`log_ev_t`（8 → 记成 PG 变化，200 → 记成 202 这种根本没有的号）。 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, (int)evlog_from_safety(8));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, (int)evlog_from_safety(200));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, (int)evlog_from_safety(255));
|
||||
}
|
||||
|
||||
@@ -133,6 +133,7 @@ static void catch_event(void *ctx, const safety_event_t *ev)
|
||||
case SAFETY_EV_OVER_VOLT:
|
||||
case SAFETY_EV_UNDER_VOLT:
|
||||
case SAFETY_EV_SLOT_EMPTY:
|
||||
case SAFETY_EV_BLADE_MUTE:
|
||||
if (rail_efuse_is_on(ev->rail)) {
|
||||
g_ev_before_action = true; /* 记这条时电早该断了 */
|
||||
}
|
||||
@@ -336,6 +337,11 @@ static void test_thresholds_match_the_documents(void)
|
||||
已经落盘的旧记录改变含义（`t_safety.h` 那句「flash 格式」）。 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_PUSHED_UP + 1, SAFETY_EV_MUX_LOST);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_MUX_LOST + 1, SAFETY_EV_SLOT_EMPTY);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_SLOT_EMPTY + 1, SAFETY_EV_BLADE_MUTE);
|
||||
|
||||
/* 0.1.4 刀片不应答：连续 10 圈 = 200 ms。必须 > 1（一圈毛刺不许关一台手机）。 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(10, T_SAFETY_BLADE_MUTE_N);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(200u, T_SAFETY_BLADE_MUTE_N * task_desc(TASK_SAFETY)->period_ms);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- 验收主项一：注入过压 → 20 ms 内关路并记事件（SR-5） ----------------- */
|
||||
@@ -547,6 +553,82 @@ static void test_a_blind_rail_keeps_its_power(void)
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(4));
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- 0.1.4：整片刀片不应答 ⇒ 关路（§10.10 新增那一行） ------------------ */
|
||||
|
||||
static void mute_blade(int rail, bool mute)
|
||||
{
|
||||
sim_i2c_set_present_ch(ch_of(rail), rail_cfg(rail)->ina_addr, !mute);
|
||||
sim_i2c_set_present_ch(ch_of(rail), PCA9555_ADDR, !mute);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 2026-09-28 板 B 第 2 槽的现场：`PRSNT#` 卡低（假在位）、刀片已经拔走、eFuse 还开着。
|
||||
两颗都不答应满 10 圈 ⇒ 关这一路、记一条 BLADE_MUTE；别的路一根线都不动。 */
|
||||
static void test_a_mute_blade_is_cut_after_ten_cycles(void)
|
||||
{
|
||||
power_up(2);
|
||||
power_up(3);
|
||||
const uint32_t other = en_writes(3);
|
||||
const uint32_t out0 = g_w[1].n;
|
||||
mute_blade(2, true); /* PRSNT2# 仍是低：slot_present(2) 照旧为真 */
|
||||
|
||||
beats(T_SAFETY_BLADE_MUTE_N - 1);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2)); /* 9 圈：还没到 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
|
||||
beat();
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(2)); /* 第 10 圈：关 */
|
||||
TEST_ASSERT_FALSE(rail_efuse_is_on(2));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, g_n_ev);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_BLADE_MUTE, g_ev[0].type);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(2, g_ev[0].rail);
|
||||
/* 没有去写那片刚 NAK 过的 PCA9555（断 VBUS 那一写只会白等超时） */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(out0, g_w[1].n);
|
||||
/* 第 3 路一根线都没动 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(3));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(other, en_writes(3));
|
||||
|
||||
beats(50); /* 关掉之后不再刷事件 */
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, g_n_ev);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 只差一圈就恢复了：从头数，不关。 */
|
||||
static void test_a_blade_that_answers_again_restarts_the_count(void)
|
||||
{
|
||||
power_up(2);
|
||||
mute_blade(2, true);
|
||||
beats(T_SAFETY_BLADE_MUTE_N - 1);
|
||||
mute_blade(2, false);
|
||||
beat();
|
||||
mute_blade(2, true);
|
||||
beats(T_SAFETY_BLADE_MUTE_N - 1);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
|
||||
beat();
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(2));
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* §10.10 原有的两行不变：只有一颗不答应 ⇒ 盲跑、保持供电。 */
|
||||
static void test_one_mute_chip_on_the_blade_still_keeps_power(void)
|
||||
{
|
||||
power_up(2);
|
||||
sim_i2c_set_present_ch(ch_of(2), PCA9555_ADDR, false); /* 只有 PCA9555 不答应 */
|
||||
beats(50);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2));
|
||||
sim_i2c_set_present_ch(ch_of(2), PCA9555_ADDR, true);
|
||||
sim_i2c_set_present_ch(ch_of(2), rail_cfg(2)->ina_addr, false); /* 只有 INA226 不答应 */
|
||||
beats(50);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* 关着的路不数：空槽假在位、没人开它，不该每 200 ms 刷一条事件。 */
|
||||
static void test_a_mute_blade_that_is_off_is_left_alone(void)
|
||||
{
|
||||
mute_blade(2, true);
|
||||
beats(50);
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(2));
|
||||
TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
|
||||
}
|
||||
|
||||
/* ---- ⭐ 关路这件事本身：R2 的顺序与「写给了哪一片」 ---------------------- */
|
||||
|
||||
/* ⭐⭐ 本包最要紧的一条。关路 = **先断 VBUS（锁内、本路通道上）再关 eFuse（锁外）**。
|
||||
@@ -1203,6 +1285,10 @@ int main(void)
|
||||
RUN_TEST(test_a_rail_that_is_off_is_never_judged);
|
||||
RUN_TEST(test_the_soft_start_window_is_not_judged);
|
||||
RUN_TEST(test_a_blind_rail_keeps_its_power);
|
||||
RUN_TEST(test_a_mute_blade_is_cut_after_ten_cycles);
|
||||
RUN_TEST(test_a_blade_that_answers_again_restarts_the_count);
|
||||
RUN_TEST(test_one_mute_chip_on_the_blade_still_keeps_power);
|
||||
RUN_TEST(test_a_mute_blade_that_is_off_is_left_alone);
|
||||
|
||||
RUN_TEST(test_the_cut_drops_vbus_inside_the_lock_on_this_rails_channel);
|
||||
RUN_TEST(test_only_the_offending_rail_is_touched);
|
||||
|
||||
@@ -36,7 +36,8 @@ EVENT_TYPES: Dict[int, Tuple[str, str]] = {
|
||||
16: ("PD_LIMIT", "PD 限功率"),
|
||||
17: ("PG_TIMEOUT", "上电等不到 PG"), # A15：arg bit0 = FLT# 在报，bit1 = 按电压判
|
||||
18: ("OTA", "固件升级"), # C2：arg 1 开始 / 2 就绪 / 3 失败(mV 列=原因) / 4 自证健康 / 5 回滚 / 6 为换固件重启
|
||||
19: ("BOOT_CHECK", "开机重按"), # 0.1.2：arg bit0~3 = 按了几次，bit7 = 最终没开起来（电源键弹片接触不良）
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19: ("BOOT_CHECK", "开机重按"),
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20: ("BLADE_MUTE", "刀片不应答关路"), # 0.1.4：eFuse 开着、本路 INA226 + PCA9555 连续 200 ms 都不应答 # 0.1.2：arg bit0~3 = 按了几次，bit7 = 最终没开起来（电源键弹片接触不良）
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}
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# LOG_EV_OTA 的 arg（firmware/main/ota.h 的 ota_ev_t）与失败原因（ota_err_t，失败那条的 mV 列）。⚠️ 冻结。
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@@ -46,7 +47,7 @@ OTA_ERR_NAMES = {1: "下载失败", 2: "大小不对", 3: "哈希不对", 4: "
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6: "切启动分区失败", 7: "没有备用槽 / 新固件未自证"}
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# 严重程度：界面上标红的那些（会断电 / 断 VBUS / 硬件故障）。
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EVENT_SEVERE = {3, 4, 5, 6, 7, 9, 11, 14, 17} # OTA 的失败 / 回滚、开机重按的「没开起来」在 api.events 里按 arg 单独标红
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EVENT_SEVERE = {3, 4, 5, 6, 7, 9, 11, 14, 17, 20} # OTA 的失败 / 回滚、开机重按的「没开起来」在 api.events 里按 arg 单独标红
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BOOT_CHECK_FAILED = 0x80 # LOG_EV_BOOT_CHECK 的 arg bit7
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# cmd_id_t（firmware/main/cmd.h），CMD_REJECT 事件的 arg 就是它。
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@@ -90,8 +90,8 @@ import { mA, V, W, C, ago, fmtTime, railsMw, railHealth, LEVEL_COLOR, RECOVERY_Z
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// 与 backend/prrack/protocol.py 的 EVENT_TYPES / EVENT_SEVERE 同一张表（数字来自固件 evlog.h）
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const EV = ['', '板子上电', '事件丢失', '过压关路', '欠压关路', '反灌断 VBUS', '顶高断 VBUS', 'eFuse 故障',
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'PG 变化', 'I²C 失联', '过温降载', '风扇停转', '重启序列', '命令被拒', 'mux 失联全断', '刀片不在位', 'PD 限功率',
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'上电等不到 PG', '固件升级', '开机重按']
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const SEVERE = new Set([3, 4, 5, 6, 7, 9, 11, 14, 17])
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'上电等不到 PG', '固件升级', '开机重按', '刀片不应答关路']
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const SEVERE = new Set([3, 4, 5, 6, 7, 9, 11, 14, 17, 20])
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// 开机重按（19）只有 arg bit7「最终没开起来」才算严重
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const isSevere = ev => SEVERE.has(ev[3]) || (ev[3] === 19 && (ev[4] & 0x80) !== 0)
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const evName = t => EV[t] || `事件 ${t}`
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@@ -280,7 +280,7 @@ USB 通断」这些原本要人手做的动作全部电气化，交给板上 MCU
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| **SW-2** | 20 ms 周期巡检六路 INA226，电压偏离 >+100 / −250 mV 持续 20 ms 即关路告警（SR-5） |
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| **SW-3** | 过流 / 故障事件记录：路号、时刻、电流值 —— 排查排线接触不良的唯一线索 |
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| **SW-4** | 单路电压微调接口（跑不稳的手机提到 4.0 V，或反向降压降温），**上限受 SR-13 约束** |
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| **SW-5** | 侧键序列：短按 100 ms 唤醒 / 长按 5 s 开机（小米8 实测 2 s 不够，2026-09-28）/ 长按 10 s 强制重启 / VOL−+PWR 进 Fastboot / VOL++PWR 进 Recovery |
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| **SW-5** | 侧键序列：短按 100 ms 唤醒 / 长按 5 s 开机（小米8 实测 2 s 不够，2026-09-28）/ 长按 10 s 强制重启 / VOL−+PWR 进 Fastboot / VOL++PWR 进 Recovery。硬重启末尾的开机键**按完看电流**：松键后 3~5 s 内 < 100 mA 就重按，最多 3 次，仍不开记事件 19「开机重按」并保持供电（固件 0.1.2，起因是电源键弹片接触不良） |
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| **SW-6** | EDL 时序**固定为** `EDL_EN=1` → `VBUS_EN=1` → 等枚举 → `EDL_EN=0`（先短接再插 USB） |
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| **SW-7** | 开机脚本执行「关充电」（写 `input_suspend` 类节点），路径需在首台机上确认后写死 |
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| **SW-8** | USB 反灌保护：检测到该路电流转负或母线上升，**200 ms 内**断开该路 VBUS |
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@@ -918,19 +918,23 @@ base = `phonerail/<id>`，id = 板子 STA MAC 的 12 位小写十六进制（板
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### 10.10 降级矩阵
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> ⚠️ **2026-09-16 按 R2 硬件更新**（底板 + 5 片刀片，见 `刀片式方案规划-R2.md`）。
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> 新增了三行（mux / `PRSNT#` / PD），改了两行（PCA9555、LM75），理由写在表后。
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| 失效 | 检测方式 | 行为 |
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|---|---|---|
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| 某片 INA226 无应答 | I²C NAK | 该路失去遥测 → **保持供电**，标记为「盲跑」，禁用该路的 SR-5 / SW-8 判据并持续告警 |
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| I²C 总线挂死（SDA 被拉低） | 连续超时 | 发 9 个时钟脉冲做总线恢复；仍不通则复位 I²C 外设；再不通进降级模式 |
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| DAC 无应答 | I²C NAK | **不关输出** —— DAC 不响应时输出停在 NVM 默认的 3.90 V，是安全值 |
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| PCA9555 无应答 | I²C NAK | 失去 FAULT / PG 可见性；改用 INA226 的电压判据兜底 |
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| 载板 LM75BD 无应答 | I²C NAK | 多半是排针接触不良（它在排针另一侧）→ **风扇转到 100 %** 并告警，不要按「读不到温度=不热」处理 |
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| **某片刀片的 PCA9555 无应答**（R2 改） | I²C NAK | 失去该路的 FAULT / PG 可见性 → **不关输出**，改用 INA226 的电压判据兜底并持续告警。⚠️ **R2 新增的代价：这一路的 `VBUS_EN` 也控制不了了** —— 它在这颗芯片的 P0.4 上。见表后第 1 条 |
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| **TCA9548A（mux）连续选不中**（R2 新增） | 连续 N 次选通失败（N 待实测，暂定 3） | **先脉冲一次 `MUX_RST#`**；复位后仍失败 ⇒ **五路全部断电**并记事件。理由见表后第 2 条 |
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| **`PRSNT#` 为高（刀片不在位）**（R2 新增） | GPIO 直读，不占总线 | 该路**不许上电**，已上电的立刻关断并记事件。空槽上电 = 金手指裸露带 12 V |
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| **整片刀片不应答**：本路 INA226 **与** PCA9555 同时 NAK，mux 正常（0.1.4 新增） | 连续 10 圈（200 ms），只在 eFuse 开着时数 | **关这一路**（只关 eFuse，不再去写那片 PCA9555）并记事件 20 `BLADE_MUTE`。理由见表后第 3 条 |
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| **CH224A 读不到 / PD 档位低于预期**（R2 新增） | I²C NAK 或 `0x50` 读数偏小 | **不关输出**，按读到的档位（读不到就按最保守的 60 W）设整板功率上限，逼近上限时按优先级降载（§8.3） |
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| ~~载板 LM75BD 无应答~~（R2 作废） | — | **R2 没有载板，这片不存在**。温度只剩两路板载 NTC；两路都读不到时仍按老规矩处理：**风扇转到 100 %** 并告警，不要按「读不到温度 = 不热」处理 |
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| 上位机失联 | 心跳超时 | 见 10.2：**什么都不做** |
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| 看门狗复位 | — | 复位即全关（SR-6），重启后按 10.9 恢复，并记一条复位事件 |
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**降级模式**的定义：只保留「关断能力」与「事件记录」，不再自动上电、不接受调压命令，
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持续告警。宁可五台手机不开机，也不要在盲态下带电跑。
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**A15 落地时补的三条（2026-09-27，逐行用例在 `firmware/test/test_bringup.c`）：**
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- **mux 失联时主干也够不着**：`i2cbus_xact(主干)` 要先给 mux 写「全关」，这一步失败回调就不跑。
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所以启动时 mux 复位后仍不通 ⇒ 不去碰 DAC / 输入侧 / CH224A（不刷三条误导性的 I2C_LOST），
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@@ -939,6 +943,32 @@ base = `phonerail/<id>`，id = 板子 STA MAC 的 12 位小写十六进制（板
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- **I²C 总线挂死**那一行（9 个时钟恢复 + 复位外设）**还没做**，在 HAL 层，待办。
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- CH224A：设计上挂 mux 通道 5，**板 B 实测在主干应答**（0x22/0x23）；启动时两处都找。
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**表后的两条，都是 R2 的架构后果，不是待办：**
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1. **`VBUS_EN` 从 GPIO 变成了 I²C 后面的一个位。** R1 里 `t_safety` 断 VBUS 是一次
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`gpio_set_level()`，几百 ns、永远成功；R2 里它是「选 mux 通道 + 写刀片 PCA9555」，
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约 0.16 ms，而且**I²C 失联时断不掉**。兜底是关 `EFUSE_EN`（GPIO 直连，永远关得掉），
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但要说清楚：**关 eFuse 并不能阻止手机经 USB 往回灌**，它只是让这一路不再直供电。
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真正的反灌保护是硬件那一层（设计文档 §15.2 的母线泄放 + 电容），固件这一层在
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I²C 失联时**确实降级了**。这是 R2 用一根跨板针换来的代价，验收在 §12.1 的 B7。
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⚠️ 相应地，`EFUSE_EN` **必须永远是 ESP32 GPIO 直连**（金手指 A11 独占一针）——
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它是保护链第三层唯一的执行手段，任何时候都不许挪到 I²C 后面。
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2. **mux 是全板唯一的单点。** 它一挂，五路的电压电流**全部看不见**，SR-5 的整条监控链
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同时断掉 —— 这时「继续供电但看不见」比「停机」危险，所以判据是**全断**，
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与上面「某片 INA226 无应答就保持供电」的处理方向相反。区别在于范围：
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一片失联时还有四路看得见，mux 失联时一路都看不见。
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之所以先脉冲一次 `MUX_RST#` 再判，是因为一次总线毛刺就停掉五台手机代价太大。
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3. **整片刀片不应答 ≠ 一颗器件不应答**（2026-09-28 加，用户拍板）。第一行「INA226 无应答 → 盲跑」
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和 PCA9555 那一行的前提是刀片上**另一颗还答应**。两颗同时不答应、而 mux 正常（选不中的话读不到这一步），
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只剩两种可能：`PRSNT#` 假在位、刀片其实不在（板 B 第 2 槽实测：`PRSNT2#` 卡低，刀片挪走后空槽 eFuse
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开了约 4 h）；或刀片在但这一路 V/I、PG/FLT、`VBUS_EN` 全都够不着。两种都是「继续供电但看不见」，
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按第 2 条同一个道理处理，范围是一路。关着的路不数（假在位的空槽不会每 200 ms 刷一条）。
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**降级模式**的定义：只保留「关断能力」与「事件记录」，不再自动上电、不接受调压命令，
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持续告警。宁可五台手机不开机，也不要在盲态下带电跑。
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### 10.11 关于 FR-12「模拟电量曲线」的一个说明
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这条需求的实现方式和它的字面意思不一样，值得在架构层写清楚：**手机的电量计是从
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在新工单中引用
屏蔽一个用户