固件 0.1.4-c5：整片刀片不应答（INA226 + PCA9555 同时 NAK 200 ms）⇒ 关这一路

- t_safety：eFuse 开着、本路两颗都 NAK 连续 10 圈 ⇒ abort + 关 eFuse，新事件 20 BLADE_MUTE；
  只关 eFuse，不再写刚 NAK 过的 PCA9555。只有一颗不答应仍按 §10.10 盲跑、保持供电
- 起因：板 B 第 2 槽 PRSNT2# 卡低，刀片挪走后空槽 eFuse 开了约 4 h，原判据一条没响
- 需求 §10.10 加一行 + 表后第 3 条；rack 事件 20 命名并标红
- 宿主机 26 ctest 全绿（test_t_safety_rules +4 例）

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firmware/test/test_t_safety_rules.c

@@ -133,6 +133,7 @@ static void catch_event(void *ctx, const safety_event_t *ev)
     case SAFETY_EV_OVER_VOLT:
     case SAFETY_EV_UNDER_VOLT:
     case SAFETY_EV_SLOT_EMPTY:
+    case SAFETY_EV_BLADE_MUTE:
         if (rail_efuse_is_on(ev->rail)) {
             g_ev_before_action = true; /* 记这条时电早该断了 */
         }
@@ -336,6 +337,11 @@ static void test_thresholds_match_the_documents(void)
        已经落盘的旧记录改变含义（`t_safety.h` 那句「flash 格式」）。 */
     TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_PUSHED_UP + 1, SAFETY_EV_MUX_LOST);
     TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_MUX_LOST + 1, SAFETY_EV_SLOT_EMPTY);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_SLOT_EMPTY + 1, SAFETY_EV_BLADE_MUTE);
+
+    /* 0.1.4 刀片不应答：连续 10 圈 = 200 ms。必须 > 1（一圈毛刺不许关一台手机）。 */
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(10, T_SAFETY_BLADE_MUTE_N);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(200u, T_SAFETY_BLADE_MUTE_N * task_desc(TASK_SAFETY)->period_ms);
 }
 
 /* ---- 验收主项一：注入过压 → 20 ms 内关路并记事件（SR-5） ----------------- */
@@ -547,6 +553,82 @@ static void test_a_blind_rail_keeps_its_power(void)
     TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(4));
 }
 
+/* ---- 0.1.4：整片刀片不应答 ⇒ 关路（§10.10 新增那一行） ------------------ */
+
+static void mute_blade(int rail, bool mute)
+{
+    sim_i2c_set_present_ch(ch_of(rail), rail_cfg(rail)->ina_addr, !mute);
+    sim_i2c_set_present_ch(ch_of(rail), PCA9555_ADDR, !mute);
+}
+
+/* 2026-09-28 板 B 第 2 槽的现场：`PRSNT#` 卡低（假在位）、刀片已经拔走、eFuse 还开着。
+   两颗都不答应满 10 圈 ⇒ 关这一路、记一条 BLADE_MUTE；别的路一根线都不动。 */
+static void test_a_mute_blade_is_cut_after_ten_cycles(void)
+{
+    power_up(2);
+    power_up(3);
+    const uint32_t other = en_writes(3);
+    const uint32_t out0 = g_w[1].n;
+    mute_blade(2, true); /* PRSNT2# 仍是低：slot_present(2) 照旧为真 */
+
+    beats(T_SAFETY_BLADE_MUTE_N - 1);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2)); /* 9 圈：还没到 */
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
+    beat();
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(2)); /* 第 10 圈：关 */
+    TEST_ASSERT_FALSE(rail_efuse_is_on(2));
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, g_n_ev);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(SAFETY_EV_BLADE_MUTE, g_ev[0].type);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(2, g_ev[0].rail);
+    /* 没有去写那片刚 NAK 过的 PCA9555（断 VBUS 那一写只会白等超时） */
+    TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(out0, g_w[1].n);
+    /* 第 3 路一根线都没动 */
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(3));
+    TEST_ASSERT_EQUAL_UINT32(other, en_writes(3));
+
+    beats(50); /* 关掉之后不再刷事件 */
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, g_n_ev);
+}
+
+/* 只差一圈就恢复了：从头数，不关。 */
+static void test_a_blade_that_answers_again_restarts_the_count(void)
+{
+    power_up(2);
+    mute_blade(2, true);
+    beats(T_SAFETY_BLADE_MUTE_N - 1);
+    mute_blade(2, false);
+    beat();
+    mute_blade(2, true);
+    beats(T_SAFETY_BLADE_MUTE_N - 1);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2));
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
+    beat();
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(2));
+}
+
+/* §10.10 原有的两行不变：只有一颗不答应 ⇒ 盲跑、保持供电。 */
+static void test_one_mute_chip_on_the_blade_still_keeps_power(void)
+{
+    power_up(2);
+    sim_i2c_set_present_ch(ch_of(2), PCA9555_ADDR, false); /* 只有 PCA9555 不答应 */
+    beats(50);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2));
+    sim_i2c_set_present_ch(ch_of(2), PCA9555_ADDR, true);
+    sim_i2c_set_present_ch(ch_of(2), rail_cfg(2)->ina_addr, false); /* 只有 INA226 不答应 */
+    beats(50);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(1, en_level(2));
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
+}
+
+/* 关着的路不数：空槽假在位、没人开它，不该每 200 ms 刷一条事件。 */
+static void test_a_mute_blade_that_is_off_is_left_alone(void)
+{
+    mute_blade(2, true);
+    beats(50);
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, en_level(2));
+    TEST_ASSERT_EQUAL_INT(0, g_n_ev);
+}
+
 /* ---- ⭐ 关路这件事本身：R2 的顺序与「写给了哪一片」 ---------------------- */
 
 /* ⭐⭐ 本包最要紧的一条。关路 = **先断 VBUS（锁内、本路通道上）再关 eFuse（锁外）**。
@@ -1203,6 +1285,10 @@ int main(void)
     RUN_TEST(test_a_rail_that_is_off_is_never_judged);
     RUN_TEST(test_the_soft_start_window_is_not_judged);
     RUN_TEST(test_a_blind_rail_keeps_its_power);
+    RUN_TEST(test_a_mute_blade_is_cut_after_ten_cycles);
+    RUN_TEST(test_a_blade_that_answers_again_restarts_the_count);
+    RUN_TEST(test_one_mute_chip_on_the_blade_still_keeps_power);
+    RUN_TEST(test_a_mute_blade_that_is_off_is_left_alone);
 
     RUN_TEST(test_the_cut_drops_vbus_inside_the_lock_on_this_rails_channel);
     RUN_TEST(test_only_the_offending_rail_is_touched);